JEOL：推出新型电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和JXA-iSP100

- 整合式EPMA的演进 -

东京--(美国商业资讯)--日本电子株式会社(JEOL Ltd., TOKYO:6951)（总裁兼营运长：Izumi Oi）宣布於2019年11月推出新型肖特基式(Schottky)场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和新型钨/ LaB6电子探针显微分析仪JXA-iSP100。

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产品开发背景

在钢、汽车、电子零件和电池材料等广泛工业领域中，电子探针显微分析仪(EPMA)用作研发和品质控制工具。此外，在学术领域，EPMA应用於地球与行星科学和材料科学，不仅涵盖矿物能源研究，而且涉及新型材料研究，从而为各种尖端研究做出贡献。随着EPMA应用的增加，EPMA使用者需要具有高可操作性的简单快速的分析，同时也要在特定感兴趣区域保持高品质的微量元素分析性能。

为满足这些需求，从观察（光学和SEM影像）到分析，JXA-iHP200F和JXA-iSP100均支援与波长色散X射线光谱仪(WDS)、能量色散X射线光谱仪(EDS)、阴极发光(CL)及其他技术的无缝整合。

主要特性

整合EPMA可实现简单快速的操作

1. 高通量
   任何人都能以高精度执行从试样送入到分析区域确定的顺畅操作。
2. 高準确度分析
   整合式EPMA系统让任何人都能够以更高的準确度和精确度以及更快的功能，更快、更轻鬆地取得分析资料。
3. 易於维护
   由於仅在需要时才自动执行维护，因此每个人都可以将EPMA系统维持在最佳状态。

JXA-iHP200F和JXA-iSP100均具有高度延展性。其不仅可用於WDS和EDS系统，而且可结合软X射线发射分光仪(SXES)进行化学状态分析，结合电子背散射衍射系统(EBSD)进行晶体取向分析，以及整合阴极发光检测器(CL)用於广泛应用中的多样化分析。

备註：EPMA是“电子探针显微分析仪”(Electron Probe Microanalyzer)的缩写。

年度单位销售目标
70套/年

日本电子株式会社
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi，总裁兼营运长
（股票代码：6951，东京证券交易所第一部）
www.jeol.com

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JXA-iHP200F (Photo: Business Wire)